Altın tel testi, çip testi, sensör testi, çift ölçümlü tasarım yaklaşımı için AOI Testörü

Test Programı

Altın tel denetimi:

Altın Top Boyutu, Lehimli Eklem Offset, Eksantrik Top Golf, Lehimli Eklem Yapışmaz, Lehimli Eklem Köprüsü, Eksik Top Ekleme, Lehimli Eklem Yapışkanlığı, Lehimli Eklem Yabancı Nesneler, Alüminyum Kaybı,Üst üste gelen lehimli eklemler, Hasarlı koruyucu kaplama,Kırık soldür eklemleri, Altın parmaklarda altın kaybı, Büyük düz toplar,Soldurulmamış←

Kablolar, yanlış kabloları lehimlemek, kayıp kablolar, kırık kablolar,

Kablolar basıyor, kablolar köprü yapıyor, altın kablolar kalıyor, lehim kabloları

Birbiriyle bağlantılı, dökme teller;

Çip Denetimi

Wafer Çip Denetimi

Wafer Çip Denetimi

Yarım iletken paketleri deneme ekipmanları

Çift raylı tasarım yöntemi (görme ve işaretleme hem çift raylı hem de tek başlı)

Ultra yüksek hassasiyetli tüm plaka görüntü teknolojisi

Tüm plaka dikişsiz ekleme teknolojisine dayanan, ofset ve açı kovaryansı gibi yüksek hassasiyetli niceliksel değer metrolojisini gerçekleştirir.

μ seviyesinde metroloji kontrol yeteneği

Pozisyon doğruluğunu <1um sağlamak için kapalı döngü kontrol sistemi.

Elektronik IO kontrolü

Uzun kullanım süresi, istikrarlı ve sessiz; LED ışık durum göstergesi.

Görme Sistemleri

Endüstriyel Kamera

Yüksek hızlı çok kareli endüstriyel dijital kameralar kullanılır.

Telemerkezli Optik Sistem

Yüksek alan derinliği, düşük bozulma, tam piksel, sabit çözünürlüklü tasarım.

Sabit Akım Işık Kaynağı Kontrolörü

Işık kaynağının parlaklığının istikrarını ve tekdüzeliğini sağlamak için tam kapalı döngü sabit akım dijital denetleyici.

Süreç kontrolü SPC'si

1CPK istatistikleri, ortalama değer, aşırı sapma, standart sapma, büyük değer, ürünün küçük değeri.

2Kontrol kurallarının kaybının özelleştirilebilir kontrol çizelgesi ve alarm istekleri.

3Kontrol dışı noktanın nedenini ve veri tabanına kaydedilen işleme önlemlerini kaydedin.

Teknik parametreler